基于加速老化试验的电磁继电器寿命评估

• 作者: 姚建林 朱斌 石颉
• 来源期刊: 低压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 电磁继电器 线圈 寿命 加速老化试验 寿命评估
• 年，卷（期）: 2013,（17）
• 所属期刊栏目: 测试技术
• 页码范围: 58-62
• 页数: 5页
• 分类号: TM581.3
• 字数: 2859字
• 语种: 中文

摘要

对电磁继电器线圈的寿命决定因素进行了分析,深入研究了电磁继电器线圈的寿命评估方法,并开发了电磁继电器线圈的加速老化试验系统.针对一种48 V电磁继电器,按照标准要求进行了加速老化试验,根据试验数据,应用可靠性理论进行了寿命评估,证明了方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	石颉		23	66	5.0	7.0
2	姚建林		16	53	4.0	6.0
3	朱斌		4	3	1.0	1.0