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摘要:
提出了一种基于双偏光干涉滤波器的激光波长测量方法,该方法克服了传统偏光干涉装置测量波长时分辨率存在盲区的缺点,通过把粗测和精测两个子系统结合可解决测量的周期性问题.实验结果表明,采用长度为1 cm的YVO4晶体作为滤波器,可实现误差小于0.01 nm的测量.与基于迈克尔逊干涉仪的波长测量方法相比,所提出的方法无需机械运动部件和参考光源,测量精度满足DWDM光纤通信系统测试的要求.
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文献信息
篇名 基于偏光干涉的激光波长测量方法设计与实验
来源期刊 半导体光电 学科 工学
关键词 波长测量 双折射晶体 偏光干涉 四象限探测器
年,卷(期) 2013,(3) 所属期刊栏目 光通信
研究方向 页码范围 494-497
页数 分类号 TN913.7
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 刘继红 西安邮电大学电子工程学院 43 166 6.0 11.0
2 吴琴 西安邮电大学电子工程学院 3 6 1.0 2.0
3 李光 西安邮电大学电子工程学院 1 1 1.0 1.0
4 屈维 西安邮电大学电子工程学院 3 5 1.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
波长测量
双折射晶体
偏光干涉
四象限探测器
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
半导体光电
双月刊
1001-5868
50-1092/TN
大16开
重庆市南坪花园路14号44所内
1976
chi
出版文献量(篇)
4307
总下载数(次)
22
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