纳米级集成电路的软错误问题及其对策

• 作者: 孙岩 宋超 张民选
• 来源期刊: 上海交通大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 软错误 集成电路 可靠性
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 页码范围: 1-6,12
• 分类号: TN47
• 语种: 中文

摘要

介绍了纳米级集成电路中软错误的发生机制、发展趋势以及评估技术,概括了软件、电路和体系结构以及工艺器件级软错误的缓解对策,并针对软错误问题相关研究的发展提出几点建议.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张民选	国防科学技术大学计算机学院	63	351	9.0	16.0
2	孙岩	国防科学技术大学计算机学院	8	25	2.0	4.0
3	宋超	国防科学技术大学计算机学院	2	2	1.0	1.0