基于复用测试逻辑方法的集成电路硅调试设计方案

• 作者: 张明 张民选 高军
• 来源期刊: 上海交通大学学报
• 学科: 工学
• 关键词: 硅调试 扫描链 存储器内建自测试
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 页码范围: 55-59,64
• 分类号: TP333
• 语种: 中文

摘要

提出了一种集成电路芯片的硅调试设计方案.采用具有短链扫描结构的扫描链复用方法,以提高对芯片触发器类信息的读写速度,为存储器内建自测试(MBIST)控制器增加异步通信调试接口,以提高静态存储器类信息的访问速度,同时,简化了MBIST控制器的物理设计难度.结果表明,所提出的硅调试设计方法可以降低硬件资源的消耗,使得调试软件设计的难度和复杂度显著降低,并使得硅调试的相关操作更加简便.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张民选	国防科学技术大学计算机学院	63	351	9.0	16.0
2	张明	国防科学技术大学计算机学院	14	72	5.0	8.0
3	高军	国防科学技术大学计算机学院	6	18	2.0	4.0