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摘要:
利用射频磁控溅射方法在玻璃衬底上沉积了一系列ZnO∶ Mn薄膜,结合Raman光谱、XRD衍射谱和SEM分析了工作气压对ZnO∶ Mn薄膜结构特性的影响.Raman拟合光谱显示,在工作气压从1Pa增加至4Pa的过程中,ZnO∶ Mn薄膜始终保持着六角纤锌矿结构.但是,随着气压的降低,对应于E2(High)振动模式的Raman散射峰以及与Mn掺杂相关的特征峰左移,说明在低工作气压时,ZnO∶ Mn薄膜内晶格缺陷更多,晶格更加无序.这一结论也得到了XRD和SEM结果的证实.
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文献信息
篇名 工作气压对ZnO:Mn薄膜结构特性的影响
来源期刊 发光学报 学科 工学
关键词 ZnO∶Mn 拉曼 稀磁半导体
年,卷(期) 2013,(6) 所属期刊栏目 材料合成及性能
研究方向 页码范围 711-715
页数 5页 分类号 O484.4|TB43
字数 3122字 语种 中文
DOI 10.3788/fgxb20133406.0711
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张宇 天津职业技术师范大学电子工程学院 15 81 3.0 8.0
2 介琼 天津职业技术师范大学电子工程学院 7 11 3.0 3.0
3 李彤 天津职业技术师范大学电子工程学院 18 16 3.0 3.0
4 倪晓昌 天津职业技术师范大学电子工程学院 37 62 4.0 5.0
5 赵新为 东京理科大学物理系 3 4 1.0 2.0
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拉曼
稀磁半导体
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