粉末压片制样-X射线荧光光谱法在监控铜选矿流程中的应用

• 作者: 孔会民 申卫龙 马富超 龙海珍
• 来源期刊: 光谱实验室
• 学科: 化学
• 关键词: 原矿 尾矿 精矿 铜 X荧光光谱法 压片制样
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 页码范围: 141-144
• 页数: 4页
• 分类号: O657.34
• 字数: 2026字
• 语种: 中文

摘要

应用X射线荧光光谱仪监控铜选矿流程,采用粉末压片法制样,确定了仪器最佳参数,建立了校准曲线.经北京矿业研究总院验证,原矿偏差小于±0.024％,尾矿偏差小于±0.004％,精矿偏差不大于±0.127％；相对标准偏差(n=9)≤1.76％.大量实验数据表明,粉末压片制样-X射线荧光光谱法测定流程原矿、尾矿、精矿中的铜的准确度、精密度均可满足对选矿的监控.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	龙海珍	巴彦淖尔西部铜业有限公司质检中心	1	1	1.0	1.0
2	孔会民	巴彦淖尔西部铜业有限公司质检中心	2	3	1.0	1.0
3	马富超	巴彦淖尔西部铜业有限公司质检中心	3	2	1.0	1.0
4	申卫龙	巴彦淖尔西部铜业有限公司质检中心	2	1	1.0	1.0