该文在简要介绍热敏打印机硬件组成原理的基础上,分析了光电检测缺纸的原理,通过采用DOE (Design of Experiment)分析方法与JMP分析软件,对光电缺纸检测系统的失效性难题进行要因试验,迅速有效地确定系统的关键因子是遮光挡片上的间距,且通过对试验数据的二次分析也为检测系统软件的创新优化提供了参考依据。试验结果表明,DOE对工程技术难题的分析及对试验数据的二次应用模式,可在保证品质可靠性的同时,也增加了系统各因子参数的冗余性,这对一般电子产品的设计与工程品质保证,具有较好的实践借鉴意义。