高密度电阻率法在蓄水池渗漏原因调查中的应用

• 作者: 庹先国 张赓 李彬 汪楷洋
• 来源期刊: 工程勘察
• 学科: 地球科学
• 关键词: 高密度电法 水池渗漏 断层 溶洞
• 年，卷（期）: 2013,（8）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 92-95
• 分类号: P631.3+22
• 语种: 中文

摘要

采用高密度电阻率法对蓄水池渗漏原因进行调查,证实了蓄水池东北侧有区域断层穿过并查明了蓄水池内部发育的两处溶洞.由此,进一步分析了蓄水池渗漏的两方面原因:①区域断层穿过场址,导致岩体破碎;②蓄水池下伏层为灰岩,易受地下水的长期溶蚀.从本次探测效果来看,高密度电法对含水断层以及溶洞的定位能力较好,但受上覆低阻屏蔽层的影响,对溶洞规模的探测效果欠佳.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	庹先国		197	2700	20.0	46.0
3	张赓		8	55	4.0	7.0
6	汪楷洋		5	25	3.0	5.0
7	李彬		7	35	3.0	5.0