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摘要:
以高质量GaN单晶基片作为衬底实现GaN的同质外延生长,是获得GaN半导体器件优异性能的基础.高质量GaN单晶基片的缺乏已成为国际范围制约GaN器件发展的瓶颈.在GaN体单晶的几种生长方法中,由于Na助熔剂法的生长条件相对温和且成本相对较低,近年来发展较快.本文从Na助熔剂法的原理、生长工艺、助熔剂种类以及得到晶体尺寸和质量等几方面进行了综述,分析了目前Na助熔剂法生长GaN单晶中的技术问题并提出了进一步研究的一些建议.
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文献信息
篇名 Na助熔剂法生长氮化镓晶体的研究进展
来源期刊 人工晶体学报 学科 物理学
关键词 氮化镓 体单晶 Na助熔剂法 进展
年,卷(期) 2013,(10) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 1983-1991
页数 9页 分类号 O782
字数 6184字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 徐卓 西安交通大学电子陶瓷与器件教育部重点实验室 106 610 13.0 18.0
2 李振荣 西安交通大学电子陶瓷与器件教育部重点实验室 19 183 6.0 13.0
3 周明斌 西安交通大学电子陶瓷与器件教育部重点实验室 1 2 1.0 1.0
4 李静思 西安交通大学电子陶瓷与器件教育部重点实验室 1 2 1.0 1.0
5 吴熙 西安交通大学电子陶瓷与器件教育部重点实验室 1 2 1.0 1.0
6 范世马豈 西安交通大学电子陶瓷与器件教育部重点实验室 1 2 1.0 1.0
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人工晶体学报
月刊
1000-985X
11-2637/O7
16开
北京朝阳区红松园1号中材人工晶体研究院,北京733信箱
1972
chi
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7423
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16
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