EPBS对氚化钛薄膜中氚量及分布的初步分析

• 作者: 孙洪伟 安竹 毛莉 邬琦琦 龙兴贵
• 来源期刊: 四川大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 氚分析 BIXS方法 EPBS方法
• 年，卷（期）: 2013,（4）
• 页码范围: 797-801
• 页数: 5页
• 分类号: TL99|O484.5
• 字数: 3248字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0490-6756.2013.04.025

摘要

近年来，我们致力于将氚b衰变诱发X射线谱分析（BIXS ）方法发展成为一种准确测量含氚薄膜中氚量及分布的常规方法。该方法结合了蒙特卡罗模拟与 Tikhonov正则法，近期已用于一系列氚化钛薄膜样品总氚量、深度分布的分析。增强质子背散射分析（EPBS ）方法作为一种快速、无损的杂质成分含量及深度分布的分析手段，在本文中被用于该系列氚化钛薄膜样品的分析，并与相应的BIXS结果进行了比较，对分析中的有关问题也进行了讨论。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	龙兴贵	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	123	496	10.0	16.0
2	安竹	四川大学原子核科学技术研究所辐射物理及技术教育部重点实验室	24	49	4.0	6.0
3	毛莉	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	7	10	1.0	3.0
4	孙洪伟	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	4	2	1.0	1.0
5	邬琦琦	中国工程物理研究院核物理与化学研究所	4	4	1.0	1.0