芯片级高场非对称波形离子迁移谱技术检测危险品

• 作者: 张媛 张洁 李灵锋 李鹏 汪小知 王琦 郭大鹏
• 来源期刊: 分析化学
• 关键词: 高场非对称波形离子迁移谱 吸气法 易燃易爆危险品
• 年，卷（期）: 2013,（7）
• 所属期刊栏目: 研究报告
• 页码范围: 986-992
• 页数: 7页
• 字数: 4991字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1096.2013.21272

摘要

建立了吸气法-芯片级高场非对称波形离子迁移谱(FAIMS)技术,设置进样温度为50℃,载气与样品气流量分别为1500和100 mL/min时,测定了10种国家交通部门规定严禁携带的易燃易爆危险品.实验结果表明,利用FAIMS技术可以有效检测多种危险品.实验得到了10种危险品的FAIMS图谱,并对其进行了指纹识别.利用扩散管辅助技术得到10种物质的检测浓度范围约为0.1 ～20 mg/L.此方法方便快速,灵敏度高,具有很好的应用前景.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李鹏	浙江大学苏州工业技术研究院	53	681	16.0	24.0
2	李灵锋	浙江大学信息与电子工程学系	6	43	4.0	6.0
6	汪小知	浙江大学信息与电子工程学系	7	54	4.0	7.0
10	王琦	江南大学食品学院	10	46	4.0	6.0
11	张洁		2	13	2.0	2.0
12	郭大鹏	浙江大学信息与电子工程学系	3	16	3.0	3.0
13	张媛		2	13	2.0	2.0