一种基于OTDR技术的插回损测试仪

• 作者: 李国军
• 来源期刊: 光通信技术
• 学科: 工学
• 关键词: OTDR技术 回波损耗测量 插入损耗测量 插回损仪
• 年，卷（期）: 2013,（2）
• 所属期刊栏目: 光缆监测
• 页码范围: 41-43
• 页数: 3页
• 分类号: TN29
• 字数: 1538字
• 语种: 中文

摘要

与传统连续波(CW)测量方法相比,基于OTDR技术的回波损耗测试方法,能够准确定位反射事件,测量结果直观、准确,在一定条件下还能够一次测量多个器件以及实现免缠绕测试.介绍了基于OTDR技术的回波损耗测量原理,设计了一种基于OTDR技术的回波损耗测量和插入损耗测量一体化测试仪.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李国军		28	96	6.0	9.0