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双立互锁单元单粒子效应加固方法研究
双立互锁单元单粒子效应加固方法研究
作者:
俞剑
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
辐射效应
单粒子效应
单粒子瞬态
辐射加固设计
双立互锁单元
摘要:
经典双立互锁单元主从型触发器存在由逆向驱动引起的单粒子翻转情况.为此,通过在主从两级之间插入缓冲器阻断反向驱动路径来解决该问题.对一款双立互锁加固芯片进行地面重粒子实验,实验结果显示,改进型双立互锁单元触发器不仅能消除单粒子功能中断,而且能减少单粒子翻转情况.
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文献信息
篇名
双立互锁单元单粒子效应加固方法研究
来源期刊
计算机工程
学科
工学
关键词
辐射效应
单粒子效应
单粒子瞬态
辐射加固设计
双立互锁单元
年,卷(期)
2013,(3)
所属期刊栏目
工程应用技术与实现
研究方向
页码范围
272-274,278
页数
4页
分类号
TP33
字数
2352字
语种
中文
DOI
10.3969/j.issn.1000-3428.2013.03.054
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
俞剑
复旦大学微电子研究院
1
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引文网络
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辐射效应
单粒子效应
单粒子瞬态
辐射加固设计
双立互锁单元
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
计算机工程
主办单位:
华东计算技术研究所
上海市计算机学会
出版周期:
月刊
ISSN:
1000-3428
CN:
31-1289/TP
开本:
大16开
出版地:
上海市桂林路418号
邮发代号:
4-310
创刊时间:
1975
语种:
chi
出版文献量(篇)
31987
总下载数(次)
53
总被引数(次)
317027
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