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摘要:
重p型掺杂GaAsSb广泛应用于InP HBT基区材料,重掺杂影响GaAsSb材料的带隙和费米能级等重要参数,这些参数对设计高性能HBT起着关键作用.本文通过间接跃迁模型研究了p+-GaAsSb材料的荧光性质,以及费米能级与Sb组分的关系.由于费米能级与空穴有效质量mh和空穴态密度nh存在函数关系,我们通过荧光测量并计算了空穴有效质量mh和空穴态密度nh,研究结果表明mh和nh共同主导了费米能级的变化.
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文献信息
篇名 基于间接跃迁模型的p+-GaAsSb费米能级研究
来源期刊 发光学报 学科 物理学
关键词 GaAsSb HBT 费米能级
年,卷(期) 2013,(8) 所属期刊栏目 器件制备及器件物理
研究方向 页码范围 1057-1060
页数 4页 分类号 O782+.8
字数 1870字 语种 中文
DOI 10.3788/fgxb20133408.1057
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 尹志军 南京电子器件研究所微波毫米波单片集成和模块电路重点实验室 11 40 4.0 6.0
2 许晓军 南京电子器件研究所微波毫米波单片集成和模块电路重点实验室 3 13 2.0 3.0
3 程伟 南京电子器件研究所微波毫米波单片集成和模块电路重点实验室 2 2 1.0 1.0
4 高汉超 南京电子器件研究所微波毫米波单片集成和模块电路重点实验室 3 2 1.0 1.0
5 王元 南京电子器件研究所微波毫米波单片集成和模块电路重点实验室 1 2 1.0 1.0
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2017(1)
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研究主题发展历程
节点文献
GaAsSb
HBT
费米能级
研究起点
研究来源
研究分支
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
发光学报
月刊
1000-7032
22-1116/O4
大16开
长春市东南湖大路16号
12-312
1970
chi
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4336
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7
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29396
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