基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取       
摘要:
重p型掺杂GaAsSb广泛应用于InP HBT基区材料,重掺杂影响GaAsSb材料的带隙和费米能级等重要参数,这些参数对设计高性能HBT起着关键作用.本文通过间接跃迁模型研究了p+-GaAsSb材料的荧光性质,以及费米能级与Sb组分的关系.由于费米能级与空穴有效质量mh和空穴态密度nh存在函数关系,我们通过荧光测量并计算了空穴有效质量mh和空穴态密度nh,研究结果表明mh和nh共同主导了费米能级的变化.
推荐文章
一种数字权利动态跃迁模型研究
数字证书
数字权利动态描述
逻辑
动态跃迁
关于N型晶体硅费米能级的研究
费米能级
N型半导体硅
电中性条件
数值计算
Al Ⅷ的能级和跃迁参数的研究
多组态Dirac-Hartree-Fock
能级
跃迁几率
振子强度
一种由自由电子能带模型计算费米能级的方法
费米能级
平均键能
自由电子能带模型
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
(/次)
(/年)
文献信息
篇名 基于间接跃迁模型的p+-GaAsSb费米能级研究
来源期刊 发光学报 学科 物理学
关键词 GaAsSb HBT 费米能级
年,卷(期) 2013,(8) 所属期刊栏目 器件制备及器件物理
研究方向 页码范围 1057-1060
页数 4页 分类号 O782+.8
字数 1870字 语种 中文
DOI 10.3788/fgxb20133408.1057
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 尹志军 南京电子器件研究所微波毫米波单片集成和模块电路重点实验室 11 40 4.0 6.0
2 许晓军 南京电子器件研究所微波毫米波单片集成和模块电路重点实验室 3 13 2.0 3.0
3 程伟 南京电子器件研究所微波毫米波单片集成和模块电路重点实验室 2 2 1.0 1.0
4 高汉超 南京电子器件研究所微波毫米波单片集成和模块电路重点实验室 3 2 1.0 1.0
5 王元 南京电子器件研究所微波毫米波单片集成和模块电路重点实验室 1 2 1.0 1.0
传播情况
(/次)
(/年)
引文网络
引文网络
二级参考文献  (0)
共引文献  (0)
参考文献  (6)
节点文献
引证文献  (2)
同被引文献  (0)
二级引证文献  (0)
1980(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
1981(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
1994(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2006(2)
  • 参考文献(2)
  • 二级参考文献(0)
2010(1)
  • 参考文献(1)
  • 二级参考文献(0)
2013(0)
  • 参考文献(0)
  • 二级参考文献(0)
  • 引证文献(0)
  • 二级引证文献(0)
2016(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
2017(1)
  • 引证文献(1)
  • 二级引证文献(0)
研究主题发展历程
节点文献
GaAsSb
HBT
费米能级
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
发光学报
月刊
1000-7032
22-1116/O4
大16开
长春市东南湖大路16号
12-312
1970
chi
出版文献量(篇)
4336
总下载数(次)
7
总被引数(次)
29396
论文1v1指导