基于性能退化的电子产品筛选试验设计

• 作者: 张志华 李大伟 钟强晖
• 来源期刊: 电子学报
• 学科: 工学
• 关键词: 退化数据 环境应力筛选 污染分布 非参数估计 试验设计
• 年，卷（期）: 2013,（9）
• 页码范围: 1788-1793
• 页数: 6页
• 分类号: TB114.3|TM206
• 字数: 7228字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.0372-2112.2013.09.019

摘要

长寿命的电子产品在进行传统环境应力筛选试验时，为了剔除存在早期失效或缺陷的产品，需要将产品长时间置于应力环境下，然而这会对其中的合格品产生较大的老化影响。对于很多电子产品来说，失效是根据性能特征逐渐退化到某个临界值来判定的。为了缩短筛选试验时间，减少筛选应力对产品的老化影响，针对退化型失效产品，本文分析了退化正常产品和退化不正常产品的差异，假设待筛选产品的退化特征量分布为污染分布模型，并给出了一种筛选试验设计方法，利用污染分布的可识别性条件，结合对退化试验的分析确定模型系数，再基于退化数据的可靠性预测方法，确定筛选试验时间和筛选阀值。最后通过实例验证该试验设计的可行性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	钟强晖	海军工程大学装备经济管理系	32	206	8.0	14.0
2	张志华	海军工程大学应用数学系	125	762	13.0	21.0
3	李大伟	海军工程大学兵器工程系	19	61	4.0	6.0