主动中子多重符合测量技术模拟研究

• 作者: 张宏俊 王亮 窦天军 莫钊洪 赵德山
• 来源期刊: 核电子学与探测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 主动中子多重符合 源-样耦合常数 增殖系数
• 年，卷（期）: 2013,（12）
• 页码范围: 1448-1450,1484
• 页数: 4页
• 分类号: TL816+3
• 字数: 2478字
• 语种: 中文

摘要

利用MCNPx软件对主动中子多重符合测量技术涉及的源-样耦合常数、增殖系数进行理论模拟，获得了不同形态样品两参量间的经验公式，初步分析了影响源-样耦合常数的主要因素，为HEU中235 U质量的认证测量及探测精度的提高奠定了重要的理论基础。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	窦天军		15	84	6.0	8.0
2	王亮		14	81	4.0	8.0
3	张宏俊		11	44	2.0	6.0
4	莫钊洪		6	9	2.0	3.0
5	赵德山		7	12	2.0	3.0