FFT方法在ADC有效位测试中的应用探讨

• 作者: 李海涛 渠红光 田晓霞 田耕 阮林波
• 来源期刊: 电测与仪表
• 学科: 工学
• 关键词: ADC性能参数 FFT 频谱泄露 相干采样 窗函数 有效位
• 年，卷（期）: 2013,（10）
• 所属期刊栏目: 测量与控制技术
• 页码范围: 14-17,83
• 页数: 5页
• 分类号: TM930.1
• 字数: 3283字
• 语种: 中文

摘要

介绍了ADC的性能参数和有效位（ENOB）的计算公式，在分析了ADC的性能参数测试方法后，给出ADC的ENOB测试解决方案。对FFT方法在ADC的ENOB测试中的应用做了深入探讨，对频谱泄露现象给出了包括相干采样和加窗函数等在内的解决方案。采用一种改进的FFT方法对TI公司的ADS5400进行ENOB测试，得到ADS5400在400 MSps采样率情况下的有效位ENOB=9.12 Bits（fin=1.123MHz）。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	阮林波	西北核技术研究所强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室	42	222	9.0	12.0
2	田晓霞	西北核技术研究所强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室	10	36	3.0	5.0
3	渠红光	西北核技术研究所强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室	17	62	4.0	7.0
4	田耕	西北核技术研究所强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室	24	91	6.0	8.0
5	李海涛	西北核技术研究所强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室	12	22	2.0	4.0