Si-PIN探测器响应函数模型及其在EDXRF技术中的应用

• 作者: 庹先国 李哲 石睿
• 来源期刊: 科技导报
• 学科: 化学
• 关键词: Si-PIN 探测器响应函数 X射线 能谱拟合
• 年，卷（期）: 2013,（28）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 35-38
• 页数: 4页
• 分类号: O657.34
• 字数: 4111字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3981/j.issn.1000-7857.2013.h2.004

摘要

建立探测器响应函数模型,实现对测量X射线能谱的分析,可提高EDXRF技术中谱数据处理的自动化程度和计算精度.通过对X射线的探测物理过程进行分析,建立了一种Si-PIN探测器响应函数模型,该模型包括4部分:全能峰低能侧的连续平台、全能峰的高斯型主成分、高斯型的Si逃逸和全能峰低能侧的指数拖尾.模型形式简单,各部分物理意义明确,各参数用自行编制的基于加权最小二乘法的程序拟合得到.对19种单元素样品的特征X射线谱进行了拟合,计算得到相应的拟合优度因子在1.05～2.71范围内.表明该模型可以较好地表征Si-PIN探测测量的X射线谱峰峰形,有助于提高EDXRF的自动化分析过程.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李哲	成都理工大学地学核技术四川省重点实验室	157	1185	19.0	29.0
5	庹先国	西南科技大学核废物与环境安全国防重点学科实验室	89	368	10.0	14.0
6	石睿	成都理工大学地学核技术四川省重点实验室	18	43	4.0	5.0