PCI Express总线高速数据传输测试系统

• 作者: 刘兴春 李硕
• 来源期刊: 电子测量技术
• 学科: 工学
• 关键词: 测试信号采集 PCI Express FPGA设计 内存映射文件
• 年，卷（期）: 2013,（12）
• 所属期刊栏目: 数据采集及信号处理
• 页码范围: 92-94,103
• 页数: 4页
• 分类号: TN919.5
• 字数: 2587字
• 语种: 中文

摘要

介绍了一种高速数据传输测试系统.系统由上位机及本地系统组成.其中,本地系统中使用FPGA产生特定序列,发送信号并接收测试结果;PEX8311芯片完成本地总线与PCI Express总线转换,将测试结果通过PCIExpress总线上传至上位机.上位机中,使用内存映射文件技术实现高速率数据实时存储.详细介绍了PCI Express总线标准及测试系统的组成、FPGA逻辑划分及各部分功能;比较内存映射文件技术与传统储存方式不同,并简述使用方法.通过测试,系统工作稳定,目前已成功应用于测试信号采集.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李硕	北京航空航天大学电子信息学院	5	29	2.0	5.0
2	刘兴春	北京航空航天大学电子信息学院	26	80	5.0	8.0