基于多信号流图模型的装备测试性分析

• 作者: 刘静 查连忠 胡向顺 辛军
• 来源期刊: 信息技术
• 学科: 工学
• 关键词: 多信号流图模型 装备可测性 滤波放大电路
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 应用技术
• 页码范围: 177-179
• 页数: 3页
• 分类号: TP311.53
• 字数: 2288字
• 语种: 中文

摘要

一个电路的测试性好意味着装备有较好的故障覆盖率,故障检测、隔离率和较低的虚警率,可以在较短的时间内,用最低的代价完成各级的测试和故障诊断任务.而部队装备又由许多电路组成,因此一个电路的测试性设计直接影响到装备的全寿命周期,良好的测试性设计已经成为武器装备发展的一个重要目标.为了提高部队装备的测试性,诸多学者极力在研究各种方法,文中提出一种基于多信号流图模型的测试性方法,系统阐述了多信号流图模型的基本分析方法及其建模,并以经典滤波放大电路为例,利用多信号流图模型分析了此电路的测试性问题.通过仿真分析说明了该方法对于装备有很高的可检测性以及故障检测率.