某型导弹发射装置随动测试故障分析解决方案

• 作者: 王冰 王孝勃
• 来源期刊: 物联网技术
• 关键词: MIL-STD-1553B总线 BU-61580总线接口芯片 RT终端 闩锁效应 总线耦合器
• 年，卷（期）: 2013,（12）
• 所属期刊栏目: 学术研究 Academic Forum -- 全面感知 Comprehensive Perception
• 页码范围: 31-33
• 页数: 3页
• 分类号: TP274
• 语种: 中文

摘要

就某型导弹发射装置中1553B总线通信异常导致的随动测试故障进行了分析，给出了该随动测试故障形成的原因，同时给出了这种故障的纠正解决方案及其有效性验证结果。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王孝勃		1	0	0.0	0.0