计量芯片数据溢出对智能电能表计量误差的影响

• 作者: 周超 徐晴 纪峰
• 来源期刊: 电测与仪表
• 学科: 工学
• 关键词: 过负荷 计量芯片 数据溢出 计量误差 反向有功
• 年，卷（期）: 2013,（z1）
• 所属期刊栏目: 产品及组件设计
• 页码范围: 132-136
• 页数: 5页
• 分类号: TM933
• 字数: 2682字
• 语种: 中文

摘要

电网负荷的不断增加，增容措施的滞后，计量装置处在严重过负荷运行状态。这对智能电能表准确、稳定计量提出了更高的要求。某智能电能表在严重过负荷情况下出现误差大幅超差和计入反向有功的问题，本文对智能电能表外围采样电路、采样信号在计量芯片中各个环节的处理过程进行了定量分析，确认异常现象是由计量芯片在严重过负荷工况下数据溢出所诱发。实验室大电流过负荷试验结果验证了本文给出的分析结果的合理性，并给出了相应的解决方案。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	纪峰	江苏省电力公司电力科学研究院	17	133	7.0	11.0
2	徐晴	江苏省电力公司电力科学研究院	28	173	8.0	11.0
3	周超	江苏省电力公司电力科学研究院	9	30	4.0	5.0