基于A RM的电磁继电器参数检测仪

• 作者: 张文超 杨备备 杨波 高惠芳
• 来源期刊: 物联网技术
• 关键词: STM32 电磁继电器 检测仪 上位机
• 年，卷（期）: 2013,（12）
• 所属期刊栏目: 学术研究 Academic Forum -- 全面感知 Comprehensive Perception
• 页码范围: 16-18
• 页数: 3页
• 分类号: TN401
• 语种: 中文

摘要

针对目前市场上存在的一些电磁继电器参数检测仪器的缺点，为了能够精确采集电磁继电器的吸合电压等主要参数，采用ARM技术和上、下位机方法，设计了一款基于ARM Cortex-M3芯片STM32F103ZET6单片机控制的电磁继电器综合参数检测仪。该仪器可完成对动断、动合、转换型直流继电器的线圈电阻、触点接触电阻、最小吸合电压、最大释放电压、吸合时间、释放时间等参数的测试。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张文超		22	107	6.0	9.0
2	高惠芳		13	33	4.0	5.0
3	杨波		13	50	4.0	6.0
4	杨备备		2	12	2.0	2.0