两种吸附剂对SF6分解特征组分吸附的实验与分析

• 作者: 唐炬 张晓星 曾福平 梁鑫 袁静帆 裘吟君
• 来源期刊: 中国电机工程学报
• 学科: 工学
• 关键词: 吸附剂 SF6分解组分 绝缘缺陷 分子筛 吸附量 吸附等温线
• 年，卷（期）: 2013,（31）
• 所属期刊栏目: 高电压技术
• 页码范围: 211-219
• 页数: 9页
• 分类号: TM835
• 字数: 6673字
• 语种: 中文

摘要

研究吸附剂对在局部放电下SF6分解组分的影响是探究利用分解组分诊断 SF6电气设备内部早期绝缘缺陷的重要内容。为此，在建立的特定吸附实验研究平台上，选用SF6电气设备中最常用的活性氧化铝和kdhF-03型分子筛吸附剂，对局部放电(partial discharge，PD)下产生的4种SF6稳定分解特征组分(CF4、CO2、SO2F2和SOF2)进行吸收特性研究，利用气相色谱仪和质谱联用仪定时检测气室内气体残余量，结合吸附量和等温吸附线对吸附机制和作用过程进行了深入分析。结果表明：两种吸附剂几乎不吸附 CF4，对CO2略有吸附，但对SO2F2和SOF2有较强的吸附能力，吸附量由多到少依次为SOF2>SO2F2>CO2>CF4。因此，在利用特征组分含量及变化规律辨识 SF6气体绝缘设备的绝缘缺陷时，必须考虑吸附剂的影响。实验也发现选用SOF2+SO2整体作为辨识 SF6设备内部绝缘缺陷的一种特征组分更有效。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张晓星		6	147	6.0	6.0
2	唐炬		6	152	6.0	6.0
3	曾福平		2	37	2.0	2.0
4	梁鑫		2	37	2.0	2.0
5	裘吟君		3	44	3.0	3.0
6	袁静帆		6	53	4.0	6.0