基于STM32的漆包线漆膜软化击穿性能检测

• 作者: 刘辉 张文希 谢明华 马凌云
• 来源期刊: 制造业自动化
• 学科: 工学
• 关键词: 漆包线 软化击穿 STM32 PID
• 年，卷（期）: 2013,（22）
• 所属期刊栏目: 检测与监控
• 页码范围: 24-25,33
• 页数: 3页
• 分类号: TH865
• 字数: 1432字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1009-0134.2013.11(下).08

摘要

针对现有漆包线软化击穿测试系统存在的自动化程度不够，对操作员素质要求高等问题，提出了一种基于STM32作为控制器的智能软化击穿测试系统技术方案。详细介绍了该系统的软硬件结构、检测电路设计和PID控温算法的设计。测试结果表明，系统精度高及操作简单。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘辉	长沙学院电子与通信工程系	22	85	6.0	8.0
2	马凌云	长沙学院电子与通信工程系	11	12	2.0	3.0
3	谢明华	长沙学院电子与通信工程系	18	75	5.0	8.0
4	张文希	长沙学院电子与通信工程系	11	31	3.0	5.0