基于量子点荧光淬灭技术的痕量Cu2+检测传感器研究

• 作者: 张健 李淼 胡泽林 郑守国
• 来源期刊: 激光杂志
• 学科: 工学
• 关键词: CdTe量子点 重金属检测 荧光淬灭 光化学传感器
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 激光应用与系统
• 页码范围: 39-40
• 页数: 2页
• 分类号: TN248.1
• 字数: 1532字
• 语种: 中文

摘要

本文设计了一种可用于现场检测的痕量Cu2+传感器,运用自行研制的光学感知与信号处理模块实现痕量Cu2+的快速检测,达到了检测仪器的低成本、小型化的目的.实验结果表明,在Cu2+浓度50-1000nmol/L范围内传感器检测结果具有较好的线性关系,拟合后的直线方程为Y=0.11869* X+ 14.47268,线性度为0.99358,标准方差为4.63099,传感器响应时间为50秒,检测的可重复性较好,该传感器可以满足痕量Cu2+现场检测的需求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张健	中科院合肥智能机械研究所	9	61	5.0	7.0
2	李淼	中科院合肥智能机械研究所	5	42	2.0	5.0
3	郑守国	中科院安徽光学与精密机械研究所	1	1	1.0	1.0
7	胡泽林	中科院合肥智能机械研究所	1	1	1.0	1.0