超级电容器放电测试用电子负载

• 作者: 刘长红 周末 姜学娟 高云 龙龙
• 来源期刊: 电源技术
• 学科: 工学
• 关键词: 电子负载 恒流源 放电测试 超级电容器 功率MOSFET
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 所属期刊栏目: 研究与设计
• 页码范围: 410-412
• 页数: 3页
• 分类号: TM53
• 字数: 2213字
• 语种: 中文

摘要

设计了一个电子负载,用于超级电容器的放电测试,工作在定电流(CC)模式.主要分两部分:恒流源部分和逻辑控制部分.恒流源部分采用CMOS集成电路驱动的MOSFET设计,应用功率MOSFET工作在恒流区时,漏极电流不随着VDS的电压而变化的恒流特性.逻辑控制部分通过数字电路实现,由计数器控制恒流源单元导通或关断.电子负载电路设计简单,受温度影响小,可以对超级电容器特性进行测试,从而了解超级电容器的性能,更好地应用超级电容器.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	姜学娟		12	21	3.0	3.0
2	高云		5	11	3.0	3.0
3	龙龙		5	7	2.0	2.0
4	刘长红		3	13	3.0	3.0
5	周末		5	6	2.0	2.0