实验室常用集成电路芯片功能验证软件平台的设计

• 作者: 张会新 李泽明 杨燕姣
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: FT245 FPGA VB上位机 功能测试
• 年，卷（期）: 2013,（8）
• 所属期刊栏目: 软件工程技术
• 页码范围: 2271-2273
• 页数: 3页
• 分类号: TH79
• 语种: 中文

摘要

采用VB编写上位机软件,利用FPGA芯片来做硬件控制器,设计出了一种基于FPGA和软件／硬件联动配置技术的集成电路芯片功能验证测试装置,实现对实验室常用集成电路芯片功能好坏测试并作出评估;该装置实现了同一插槽测试不同芯片和集成电路测试台上最多达二个芯片同时测试的功能;该装置已成功地用于包括TTL74138、IDT7206、DS26C31等多个实验室常用集成电路芯片的功能测试.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张会新	中北大学电子测试国家重点实验室	108	556	12.0	18.0
5	杨燕姣	中北大学电子测试国家重点实验室	10	56	4.0	7.0
9	李泽明	中北大学电子测试国家重点实验室	7	50	5.0	7.0