含微网的智能配电网故障自愈过程中操作过电压特征

• 作者: 何金良 张若兵 殷禹 胡军 蔡静文
• 来源期刊: 电网技术
• 学科: 工学
• 关键词: 微网 智能配网 配网自愈 操作过电压 PSCAD/EMTDC
• 年，卷（期）: 2013,（9）
• 所属期刊栏目: 智能电网技术
• 页码范围: 2615-2620
• 页数: 6页
• 分类号: TM86
• 字数: 4349字
• 语种: 中文

摘要

为研究微网支持下的可自愈智能配网故障及自愈过程中操作过电压特征，基于智能配网发生短路故障后自动网络重构方案，在PSCAD/EMTDC平台搭建了含典型微电源的微网单元模型与含微网单元的配电网系统模型，对在系统不同位置发生5种常见短路故障后故障瞬间及自愈过程中系统各处的过电压特征进行仿真计算。仿真结果表明，最大过电压值高达3.40pu，可能威胁绝缘安全，需加装保护装置；对于电网最常见的单相接地故障，系统不同监测位置发生故障后最大操作过电压大致范围为2.3~2.7 pu，可为实际含微网的智能配网的绝缘配合提供参考。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张若兵	清华大学深圳研究生院	37	473	12.0	21.0
2	殷禹		25	537	15.0	23.0
3	何金良		4	97	4.0	4.0
4	蔡静文		1	12	1.0	1.0
5	胡军		1	12	1.0	1.0