79Se的AMS测量方法研究

• 作者: 何明 姜山 林德雨 武绍勇 王伟 王晓波 窦亮 管永精 董克君 谢林波
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 加速器质谱 79Se测量 衰减片 半导体探测器
• 年，卷（期）: 2013,（12）
• 所属期刊栏目: 技术及应用
• 页码范围: 2317-2321
• 页数: 5页
• 分类号: TL817.4
• 语种: 中文
• DOI: 10.7538/yzk.2013.47.12.2317

摘要

测定79 Se时由于79 Se尚无标准样品，需要建立79 Se/Se（79 Se、Se原子个数比，余同）的 AMS测量方法。在79 Se/Se的绝对测定中，为尽可能避免测量Se的同位素之间的差异，通常利用探测器测量79 Se离子，本文用法拉第筒对78 Se和80 Se进行测量，但这造成两个测量系统之间的系统误差。为避免这种系统误差，利用同一探测器测定79 Se、78 Se和80 Se。考虑到78 Se和80 Se的计数率非常高，在CIAE-AMS系统中的静电分析器前和靶室内安装衰减片以降低78 Se和80 Se的计数率。实验结果表明：通过两个衰减片的衰减作用，能将78 Se和80 Se的束流降低到半导体探测器的检测范围内，实现了样品中79 Se/Se的绝对测定，得到79 Se/Se为（2.08±0.10）×10-7，为准确测定79 Se半衰期奠定了基础。