雷电冲击试验中特高压油纸电容式套管末屏电位升高原因分析

• 作者: 张施令 彭宗仁 胡伟 许佐明 谢雄杰 黄华
• 来源期刊: 高电压技术
• 关键词: 特高压 油纸绝缘 电容套管 油色谱 雷电冲击 高频阻抗 末屏 电位升高
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 所属期刊栏目: 特高压输电专题
• 页码范围: 577-583
• 页数: 7页
• 字数: 4914字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-6520.2013.03.010

摘要

为分析某1 100 kV特高压油纸电容式套管在进行雷电冲击试验后油中产生少量乙炔的原因,首先采用三比值法分析了油色谱数据,确定故障类型为套管内部低能量放电.然后对套管进行解体分析,发现套管末屏引线断股并有放电痕迹.最后进一步从套管末屏电位升高的角度分析了放电原因,并通过测量接地线高频阻抗,同时结合实测的电流波形,估算了末屏电位升高值.研究结果表明,接地线的高频阻抗远大于工频阻抗,这是套管在雷电冲击电压试验时末屏电位升高的重要原因之一;估算可得,特高压套管在进行雷电冲击截波试验时,套管末屏对地电位的升高值达到41 kV.因此,特高压油纸电容式套管在进行雷电冲击试验时,为避免地电位抬高引起的类似故障,应增加接地线截面积、减小接地线长度并采取一点接地的方式.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	彭宗仁	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	99	1239	22.0	31.0
2	许佐明	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	7	41	4.0	6.0
4	胡伟	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	7	57	4.0	7.0
10	张施令	西安交通大学电力设备电气绝缘国家重点实验室	11	196	9.0	11.0
11	黄华		6	52	3.0	6.0
12	谢雄杰		7	87	6.0	7.0