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多径衰落信道下MC-DS-CDMA系统性能分析
多径衰落信道下MC-DS-CDMA系统性能分析
作者:
张群
胡茂凯
陈西宏
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
多载波直接扩频
多径衰落信道
Nakagami衰落
性能分析
仿真
摘要:
研究多径衰落信道下的MC-DS-CDMA系统性能,子载波采用RAKE和最大比合并(MRC)接收方式.分析与计算了接收信号中有用信号和各干扰分量的数学统计特性,并在此基础上推导了系统的误比特率(BER)公式.仿真中考虑了系统用户数量、信道衰落指数以及延时功率谱衰减系数等参数对系统BER的影响.对系统性能进行了仿真验证,结果表明:给出的结果具有通用性,改变信道衰落指数和功率延迟谱衰落系数,可得到不同衰落信道类型下的系统BER;用户数目和信道衰落指数对系统BER影响大,而多径功率衰落系数对其影响较小.
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内容分析
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文献信息
篇名
多径衰落信道下MC-DS-CDMA系统性能分析
来源期刊
华中科技大学学报(自然科学版)
学科
工学
关键词
多载波直接扩频
多径衰落信道
Nakagami衰落
性能分析
仿真
年,卷(期)
2013,(1)
所属期刊栏目
电子与信息工程
研究方向
页码范围
97-101
页数
分类号
TN911.6
字数
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
张群
空军工程大学信息与导航学院
228
1290
15.0
23.0
2
陈西宏
空军工程大学防空反导学院
140
621
11.0
16.0
3
胡茂凯
空军工程大学防空反导学院
21
89
6.0
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研究主题发展历程
节点文献
多载波直接扩频
多径衰落信道
Nakagami衰落
性能分析
仿真
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
华中科技大学学报(自然科学版)
主办单位:
华中科技大学
出版周期:
月刊
ISSN:
1671-4512
CN:
42-1658/N
开本:
大16开
出版地:
武汉市珞喻路1037号
邮发代号:
38-9
创刊时间:
1973
语种:
chi
出版文献量(篇)
9146
总下载数(次)
26
总被引数(次)
88536
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