基于FPGA的变压器绕组变形测试仪研制

• 作者: 陈超
• 来源期刊: 电气技术
• 关键词: 绕组变形 频率响应法 FPGA 扫频 有效值转换
• 年，卷（期）: 2013,（10）
• 所属期刊栏目: 技术与应用
• 页码范围: 64-67,73
• 页数: 5页
• 字数: 2149字
• 语种: 中文

摘要

本文根据变压器绕组变形频率响应法的原理,利用FPGA可以嵌核和并行处理的优势,设计了变压器绕组变形测试仪.信号发生器采用FPGA核控制AD9854产生扫频信号,扫频频段可以是0～8MHz内任意频段.并通过低通滤波器得到纯正的正弦波信号,最后经幅值放大和功率放大产生可供变压器绕组测试的信号.该测试仪能够测量变压器的幅频和相频特性,通过软件实现幅频曲线和相频曲线分开测试,在幅频测试上采取直接采样经有效值转换后获得信号的方法,使得幅频特性的测量更为快速.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈超		2	6	1.0	2.0