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摘要:
快速、精确地测量对激光测径技术具有重要意义,考虑到传统单片机检测速度慢、时耗开发大等问题,文中提出了一种基于FPGA IP核技术的扫描式激光测径系统的设计方案及实现方法.同时在QuartusⅡ集成环境中进行了系统的综合、布局布线及时序仿真.仿真结果验证构建有IP核的激光测径系统,运算速度快,测量数据精确、且便于升级.
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IP核
水印
细小线材扫描式激光测径仪
细小线材
激光测径
漆包线
内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 基于FPGA IP核的扫描式激光测径方法
来源期刊 电子科技 学科 工学
关键词 FPGA 扫描 激光测径 MCU软核
年,卷(期) 2013,(10) 所属期刊栏目 光电·材料
研究方向 页码范围 95-97
页数 3页 分类号 TP278
字数 1511字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 赵光兴 安徽工业大学电气信息学院 43 176 8.0 11.0
2 朱庆叶 安徽工业大学电气信息学院 1 0 0.0 0.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
FPGA
扫描
激光测径
MCU软核
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子科技
月刊
1007-7820
61-1291/TN
大16开
西安电子科技大学
1987
chi
出版文献量(篇)
9344
总下载数(次)
32
总被引数(次)
31437
论文1v1指导