一种红外焦平面阵列的盲元检测快速算法

• 作者: 吕宁 马学智
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: 红外焦平面阵列 最大类间方差法 盲元检测 最小类内方差法
• 年，卷（期）: 2013,（10）
• 所属期刊栏目: 光电·材料
• 页码范围: 88-90,94
• 页数: 4页
• 分类号: TN21
• 字数: 2553字
• 语种: 中文

摘要

在以往红外焦平面阵列的盲元检测方法的基础上,提出了一种基于像元噪声电压和改进的最大类间方差法(OTSU)的快速检测方法,该算法采用一次均匀背景的采集结果计算像元噪声电压,并利用最大类间方差和最小类内方差的算法原理计算并得出判定盲元的阈值.实验结果表明,文中方法在准确性和实时性方面有较大的提高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吕宁	西安电子科技大学电子工程学院	7	51	3.0	7.0
2	马学智	西安电子科技大学电子工程学院	1	1	1.0	1.0