利用高能缓发γ射线测定裂变数

• 作者: 侯龙 冯晶 刘世龙 杨毅 杨洋 王朝辉 苏晓斌
• 来源期刊: 原子能科学技术
• 关键词: 缓发γ射线 裂变数 NaI探测器
• 年，卷（期）: 2013,（4）
• 所属期刊栏目: 物理
• 页码范围: 517-522
• 页数: 6页
• 分类号: TL816
• 语种: 中文
• DOI: 10.7538/yzk.2013.47.04.0517

摘要

利用裂变产额法得到短时间辐照235U样品的裂变总数,通过大体积NaI探测器测量3 MeV以上高能缓发γ射线总计数随时间的变化,从而得到一次裂变3 MeV以上高能缓发γ射线总发射率随时间的变化规律,并给出脉冲辐照下高能缓发γ射线的发射率.通过高能缓发γ射线测量了两块235 U样品的裂变数,其相对不确定度小于4％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杨洋	中国原子能科学研究院核数据重点实验室	27	31	4.0	4.0
3	杨毅	中国原子能科学研究院核数据重点实验室	21	25	3.0	4.0
4	刘世龙	中国原子能科学研究院核数据重点实验室	17	27	3.0	4.0
7	冯晶	中国原子能科学研究院核数据重点实验室	7	15	3.0	3.0
8	王朝辉	中国原子能科学研究院核数据重点实验室	7	8	2.0	2.0
9	苏晓斌	中国原子能科学研究院核数据重点实验室	8	9	2.0	2.0