基于UVM实现时间同步电路的功能验证

• 作者: 吴晓成 张荣华 王世中 王治 王纯委 田泽
• 来源期刊: 计算机技术与发展
• 学科: 工学
• 关键词: UVM 覆盖率 寄存器模型
• 年，卷（期）: 2013,（7）
• 所属期刊栏目: 应用开发研究
• 页码范围: 183-186
• 页数: 4页
• 分类号: TP39
• 字数: 2595字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-629X.2013.07.047

摘要

时间同步电路模块是某款在研网络通信SoC芯片的核心IP之一,为通信网络子系统之间提供精准的时间同步功能,因此对其功能正确的验证具有重要意义.如果采用传统的定向测试方法对其验证将很难遍历到所有情况,而采用受约束的随机测试、基于覆盖率驱动的UVM验证方法学,能大量减小验证激励的开发项,有效穷举要验证的功能点.文中介绍了基于UVM验证方法学验证平台设计实现的过程,经过仿真验证和覆盖率的统计分析,证明采用该方法能高效地检查出设计的缺陷,减少了验证花费的时间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田泽		122	777	15.0	20.0
2	张荣华		7	68	5.0	7.0
3	王治		7	52	4.0	7.0
4	吴晓成		4	27	2.0	4.0
5	王世中		1	19	1.0	1.0
6	王纯委		13	37	2.0	6.0