内进化容错模型设计及其可靠性分析

• 作者: 余建华 娄建安 李阳
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: FPGA 内进化 容错 可靠性分析
• 年，卷（期）: 2013,（20）
• 页码范围: 1-3
• 页数: 3页
• 分类号: TN911-34|TP301.6
• 语种: 中文

摘要

仿照自然界的碳基生物进化过程，在FPGA内部实现了可控的硅基进化。针对电子系统常见的SA故障，提出了基于演化硬件技术的内进化容错模型，通过在FPGA内部装载Microblaze CPU和构建可重配置阵列，实现了演化硬件的片内进化。利用该模型进行了故障容错实验，检验了其有效的故障容错能力，证明该容错方法能够有效提高数字电路的可靠性。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	娄建安	军械工程学院电气工程系	32	131	6.0	9.0
2	李阳	军械工程学院电气工程系	7	17	3.0	4.0
3	余建华	军械工程学院电气工程系	16	137	6.0	11.0