HALT/HASS试验技术在电子电工产品的应用

• 作者: 赵家华
• 来源期刊: 电子世界
• 关键词: 加速可靠性试验 设计缺陷 应力 温度循环
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 页码范围: 26-27
• 字数: 3924字
• 语种: 中文

摘要

本文基于高加速寿命试验(HALT)和高加速筛选试验(HASS)的详细介绍,重点分析两种试验方法的可靠性测试步骤,并揭示其应用领域及实用价值.由于加速可靠性试验可使用户很快确定电子电工产品的可靠性,它在实际质量控制中成为比较有效地手段.高加速寿命试验HALT和高加速筛选试验HASS是非常有效地加速可靠性技术,它已在制造业中推广.其中HALT是在电工产品设计阶段使用,它可快速暴露设计缺陷以便重更改设计,消除缺陷,从而减少维修费用.HASS是在电子电工产品的生产阶段使用,它可快速暴露任何工艺缺陷.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵家华		3	21	2.0	3.0