PCB板特性阻抗测试方法研究

• 作者: 李金刚
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: 特性阻抗 TDR 测试方法
• 年，卷（期）: 2013,（11）
• 所属期刊栏目: 电子·电路
• 页码范围: 77-79
• 页数: 3页
• 分类号: TN41
• 字数: 1885字
• 语种: 中文

摘要

随着大规模、超大规模集成电路被广泛应用于通用系统中,新的串行总线的速率高达几十Gbit·s-1,在这样的速率下,如果传输线的阻抗不符合标准,传输线间就会产生严重的串扰,这将直接影响PCB的质量.为更深入地研究特性阻抗的测试方法,文中就特性阻抗的基本知识、TDR测试的基本原理和方法进行了介绍,为日后的PCB板特性阻抗测试工作提供了参考.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李金刚	西安电子科技大学电子工程学院	3	9	1.0	3.0