电子元件的老化与筛选

• 作者: 梁艺凡
• 来源期刊: 光谱实验室
• 学科: 工学
• 关键词: 电子元件 老化 筛选
• 年，卷（期）: 2013,（2）
• 页码范围: 865-868
• 页数: 4页
• 分类号: TM206
• 字数: 2322字
• 语种: 中文

摘要

为了保证电子元件使用的可靠性和稳定性,需要进行老化与筛选.电子元件的失效分为早期失效、正常使用期和损耗老化失效期三个阶段.除了常用的老化筛选方法之外,还可采用自然老化和简易老化方式.以场效应管功率老化系统为例研究了常用试验装置.国产电子元件需加强老化筛选这个环节.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁艺凡	西安铁路信号有限责任公司继电器车间试验室	1	7	1.0	1.0