相控阵声束焦距深度与晶片数目的优化研究

• 作者: 于达 孙亚娟 郑渝 齐向前
• 来源期刊: 现代电子技术
• 关键词: 相控阵技术 聚焦深度 激发孔径 线型阵列换能器 声束
• 年，卷（期）: 2013,（24）
• 所属期刊栏目: 计算机应用技术
• 页码范围: 20-21
• 页数: 2页
• 分类号: TN911-34
• 语种: 中文

摘要

相控阵技术的突出优点包括实现灵活聚焦和激发孔径的自由选择。相控阵技术在实际检测过程中聚焦深度一般会固定但是其聚焦深度与激发孔径的大小（即激发晶片数目的多少）之间具有复杂的相互关联和制约关系。因此基于相控阵声束形成及聚焦的原理，采用32阵元线型阵列换能器，通过实验方式研究了聚焦深度为10~50 mm时激发孔径的最佳范围。研究结果希望会对今后的相控阵检测起到重要的参考价值。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	齐向前		15	81	5.0	8.0
2	于达		1	5	1.0	1.0
3	孙亚娟		1	5	1.0	1.0
4	郑渝		1	5	1.0	1.0