三相全桥电路中功率MOS管失效原因分析

• 作者: 尹长青 张凯 江建慧
• 来源期刊: 计算机技术与发展
• 学科: 工学
• 关键词: 失效模式 MOS 瞬时共同导通
• 年，卷（期）: 2013,（6）
• 所属期刊栏目: 应用开发研究
• 页码范围: 208-210
• 页数: 3页
• 分类号: TP31
• 字数: 1558字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1673-629X.2013.06.053

摘要

文中针对某风扇电机驱动电路高故障率的现象进行研究,并对其中三相全桥电路的失效原因进行分析,通过对失效现象的观察,着重对电路中的功率MOS管的失效原因进行分析.采用示波器观察波形的方法,首先采取对电路进行负载测试,以此来确保电路设计的正确性；然后对电路进行高压测试,模拟失效现象,分析其产生失效的原因.通过实验验证,提出了相应的解决办法,为工程人员提供了一种分析MOS管失效原因的参考方法.该方法适用于工程中大量使用的功率器件失效的疑难分析.最后,分别从硬件电路的设计以及软件的设计上提出了改进的方法.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	江建慧	同济大学软件学院	91	680	14.0	21.0
2	张凯	同济大学软件学院	44	475	10.0	21.0
3	尹长青	同济大学软件学院	35	116	6.0	10.0