一种Nand Flash ECC校验设计及FPGA实现

• 作者: 张会新 李泽明 杨燕姣
• 来源期刊: 电视技术
• 学科: 工学
• 关键词: ECC FPGA Nand Flash
• 年，卷（期）: 2013,（17）
• 所属期刊栏目: 器件与应用
• 页码范围: 73-75
• 页数: 3页
• 分类号: TP332
• 字数: 1620字
• 语种: 中文

摘要

基于汉明码设计了ECC校验算法,在基于FPGA的NAND Flash存储器上实现了纠错功能.该算法每4 kbyte生成3 byte ECC校验信息,能够检测双比特错误且纠正单比特错误,算法简单,占用硬件资源较少,提高了存储系统的可靠性,具有一定实用价值.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张会新	中北大学电子测试国家重点实验室	108	556	12.0	18.0
5	杨燕姣	中北大学电子测试国家重点实验室	10	56	4.0	7.0
9	李泽明	中北大学电子测试国家重点实验室	7	50	5.0	7.0