多核处理器硅后调试技术研究最新进展

• 作者: 韩银和 高建良
• 来源期刊: 计算机应用研究
• 关键词: 多核处理器 硅后调试 非确定性错误
• 年，卷（期）: 2013,（2）
• 所属期刊栏目: 综述评论
• 页码范围: 321-324
• 页数: 4页
• 分类号: TP391.41
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-3695.2013.02.001

摘要

针对多核处理器硅后调试技术进行综述和分析.首先,介绍了多核处理器硅后调试技术面临的困难,特别是非确定性错误带来的新挑战；然后,概括介绍了国内外多核处理器硅后调试研究的最新进展,并分析了已有方法存在的问题；最后,对多核处理器硅后调试研究热点和趋势进行了分析,并指出该领域未来可能的研究方向.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韩银和	中国科学院计算技术研究所	48	573	12.0	22.0
2	高建良	中南大学信息科学与工程学院	7	22	3.0	4.0