基于机器视觉的微片状物厚度检测

• 作者: 彭勇 林茂松 燕发文 王中飞 褚晓龙
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 嵌入式系统 机器视觉 图像处理 厚度检测
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 自动化测试技术
• 页码范围: 36-38
• 页数: 3页
• 分类号: TP391.8
• 语种: 中文

摘要

针对片状颗粒厚度检测的实际需求,结合机器视觉、图像处理和嵌入式技术,设计与实现了一套基于高性能ARM11的微片状颗粒厚度检测系统.该系统以QT和S3C6410为软硬件平台,提出了利用轮廓提取和最小矩形边界框相结合的方法计算片状颗粒厚度.结果表明,该检测系统具有处理速度快,测量精度高和成本低廉等优点,满足了对颗粒厚度测量的需求.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	林茂松	西南科技大学信息工程学院	37	258	9.0	14.0
2	彭勇	西南科技大学计算机科学与技术学院	10	24	3.0	4.0
3	王中飞	西南科技大学计算机科学与技术学院	4	56	3.0	4.0
4	褚晓龙	西南科技大学计算机科学与技术学院	2	11	1.0	2.0
5	燕发文	西南科技大学计算机科学与技术学院	2	32	2.0	2.0