原文服务方: 现代电子技术       
摘要:
为了实现对温室大棚内环境参数(温度,湿度和光照强度)的测量以及自动调控的目的,搭建一个模拟温室大棚。采用温湿度传感器、光敏电阻等获得环境参数,通过AVR单片机编程实现参数判定并且自动控制调控系统工作。调控系统分为加湿系统,增光照系统,加温系统以及降温降湿系统,从而获得农作物生长最佳环境的结果[1]。最后通过两组植物的生长情况对比,说明系统设计的有效性。
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内容分析
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文献信息
篇名 模拟温室测控系统模型的研究与设计
来源期刊 现代电子技术 学科
关键词 AVR单片机 温室 温度测量 调节系统
年,卷(期) 2013,(21) 所属期刊栏目 测试?测量?自动化 -- 测控技术
研究方向 页码范围 117-119
页数 3页 分类号 TN06-34
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 张立 北京林业大学理学院 30 161 7.0 12.0
2 王志华 北京林业大学理学院 2 8 1.0 2.0
3 汪维桂 北京林业大学理学院 1 1 1.0 1.0
4 张晓薇 北京林业大学理学院 1 1 1.0 1.0
5 尤佩璇 北京林业大学理学院 1 1 1.0 1.0
6 杨程轶 北京林业大学理学院 1 1 1.0 1.0
传播情况
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研究主题发展历程
节点文献
AVR单片机
温室
温度测量
调节系统
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
现代电子技术
半月刊
1004-373X
61-1224/TN
大16开
1977-01-01
chi
出版文献量(篇)
23937
总下载数(次)
0
总被引数(次)
135074
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