一种基于FPGA的存储器模块测试系统设计

• 作者: 何花 王党辉
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: 存储器模块 March-B算法 波形发生器 测试
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 自动化测试技术
• 页码范围: 33-35
• 页数: 3页
• 分类号: TP306.2
• 语种: 中文

摘要

存储器模块测试对于航空电子综合系统的可靠性至关重要,设计了一种基于FPGA实现的高速存储器测试系统,由基于March-B存储器测试算法的波形产生器、SDRAM控制器和串行口控制器等组成；采用Altera EP1C6-6芯片进行实现,综合与布局布线结果显示波形发生器的运行频率高达266.7 MHz,逻辑占用率68％；使用C++语言开发了上层控制软件与用户界面,在实验中采用故障注入方式模拟存储器模块出错情况；结果显示设计的存储器模块测试系统达到了设计要求；实验结果显示该系统能够测试多种LocalBus总线协议兼容的存储器模块,并且能够覆盖多种典型存储器故障.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王党辉	西北工业大学计算机学院	31	94	5.0	7.0
2	何花	西北工业大学计算机学院	2	5	2.0	2.0