石墨烯的表征方法

• 作者: 张东 彭黎琼 谢金花 郭超
• 来源期刊: 功能材料
• 学科: 工学
• 关键词: 石墨烯 表征 层数 结构 显微镜 光谱
• 年，卷（期）: 2013,（21）
• 所属期刊栏目: 综述?进展
• 页码范围: 3055-3059
• 页数: 5页
• 分类号: TN383
• 字数: 3692字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-9731.2013.21.001

摘要

单层石墨烯的厚度为0.335nm,在垂直方向上有约1 nm的起伏,且不同工艺制备的石墨烯层数和结构有所不同,如何有效地鉴定石墨烯的层数和结构是获得高质量石墨烯的关键步骤之一。介绍了光学显微镜、扫描电子显微镜(SEM )、透射电子显微镜(TEM)、原子力显微镜(AFM)、拉曼光谱(Raman)、红外光谱(IR)、X射线光电子能谱(XPS)和紫外-可见光谱(UV-Vis)等几种用来表征石墨烯的主要方法。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张东	同济大学材料科学与工程学院先进土木工程材料教育部重点实验室	89	2439	29.0	47.0
2	郭超	同济大学材料科学与工程学院先进土木工程材料教育部重点实验室	15	125	5.0	11.0
3	彭黎琼	同济大学材料科学与工程学院先进土木工程材料教育部重点实验室	1	75	1.0	1.0
4	谢金花	同济大学材料科学与工程学院先进土木工程材料教育部重点实验室	2	76	1.0	2.0