基于FPGA的某测试系统供电电源的可靠性分析

• 作者: 刘鑫 焦亚涛 王雪松 甄国涌
• 来源期刊: 计算机测量与控制
• 关键词: FPGA 抖动 电源 电容 上电时间
• 年，卷（期）: 2013,（2）
• 所属期刊栏目: 试验与评价技术
• 页码范围: 430-432,447
• 页数: 4页
• 分类号: TN707
• 语种: 中文

摘要

针对某测试系统在试验、调试的过程中,其FPGA控制芯片工作失常,芯片急剧发热的现象进行了深入分析,发现在上电过程中,信号采集电路中FPGA芯片的3.3V和1.2V电源信号出现的多次异常抖动导致了FPGA芯片不能正常工作；因此,文中对FPGA芯片供电电源的可靠性进行了分析,提出了两种解决方案,通过改变LM317可调节端电容、稳压电路输出端减小高频噪声和改善负载电路瞬态响应的电容容值来起到提高供电电源可靠性的作用,并对这两种方案进行了验证.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	甄国涌	中北大学电子测试技术国家重点实验室	99	529	11.0	16.0
2	刘鑫	中北大学电子测试技术国家重点实验室	17	52	5.0	6.0
3	王雪松	中北大学电子测试技术国家重点实验室	3	15	3.0	3.0
4	焦亚涛	中北大学电子测试技术国家重点实验室	4	23	4.0	4.0